激光光散射粒度儀的概念理解了，那計(jì)算參數(shù)不知大家清楚嗎？米氏(MIE)理論就是考慮了物質(zhì)對(duì)光的吸收與各種電磁作用來計(jì)算散射強(qiáng)度的理論。因此折射率是米氏計(jì)算一項(xiàng)*的參數(shù)。通常激光光散射粒度儀在軟件設(shè)計(jì)中要計(jì)算幾種折射率不同的模型來適用于不同物質(zhì)。因此折射率產(chǎn)生于測(cè)試之前，而不是物質(zhì)測(cè)量的結(jié)果。

　　因此使用激光光散射粒度儀，首先需要確定樣品的折射率，一般的用戶根本不知道要測(cè)量的產(chǎn)品折射率的準(zhǔn)確參數(shù)(據(jù)檢索目前尚無一種儀器可以準(zhǔn)確測(cè)量粉末的折射率，折射率表中表示的只是物質(zhì)的折射率，而非粉末的折射率，二者之間有很大差別)，因此只好隨意的選一種用來計(jì)算，如果計(jì)算不滿意再換一種。如此的折射率準(zhǔn)確程度有多大，難道不令人懷疑嗎？
                                            

　　由激光光散射粒度儀(一般為He-Ne激光光散射粒度儀或半導(dǎo)體激光光散射粒度儀)發(fā)出的光束。經(jīng)空間濾波器和擴(kuò)束透鏡后，得到了一個(gè)平行單色光束，該光束照射到由分散系統(tǒng)傳輸過來的顆粒樣品后發(fā)生散射現(xiàn)象。研究表明，散射光的角度和顆粒直徑成反比，散射光強(qiáng)隨角度的增加呈對(duì)數(shù)衰減。這些散射光經(jīng)透鏡后成像在排列有多環(huán)光電探測(cè)器的焦平面上。激光光散射粒度儀的多環(huán)探測(cè)器上的中央探測(cè)器用來測(cè)定樣品的體積濃度，外圍探測(cè)器用來接收散射光的能量并轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，而散射光的能量分布與顆粒粒度分布直接相關(guān)。通過接收和測(cè)量散射光的能量分布就可以反演得出顆粒的粒度分布特征。

　　二 激光光散射粒度儀的散射理論發(fā)展史

　　激光光散射粒度儀主要依據(jù)Fraunhofer 衍射和Mie散射兩種光學(xué)理論。下面就激光光散射粒度儀的發(fā)展歷史作簡(jiǎn)要闡述：

　　散射理論的研究開始于上一世紀(jì)的70年代。1871年，瑞利(Lord Rayleigh)首先提出了的瑞利散射定律，并用電子論的觀點(diǎn)解釋了光散射的本質(zhì)。瑞利散射定律的適用條件是散射體的尺寸要比光波波長(zhǎng)小。1908年，米氏(G. Mie)通過電磁波的麥克斯韋方程，解出了一個(gè)關(guān)于激光光散射粒度儀中光散射的嚴(yán)格數(shù)學(xué)解，得出了任意直徑、任意成分的均勻粒子的散射規(guī)律，這就是的米氏理論。1957年， H. C. Van de Hulst 出版了關(guān)于微小粒子光散射現(xiàn)象的專著，總結(jié)了激光光散射粒度儀的粒子散射的普遍規(guī)律，受到科技界人士的廣泛注意，這本專著被認(rèn)為是光散射理論領(lǐng)域的經(jīng)典文獻(xiàn) 。1969年，M . Kerker 系統(tǒng)論述了光及電磁波散射的一般規(guī)律，為散射理論的進(jìn)一步發(fā)展做出了貢獻(xiàn)。1983年，C. F. Bo hren ，O. R. Huff man綜合前人的成果，又發(fā)表了關(guān)于激光光散射粒度儀微小粒子對(duì)光散射及吸收的一般規(guī)律，更全面地解釋了光的各種散射現(xiàn)象。至此，激光光散射粒度儀的散射理論的體系建立起來了。

　　實(shí)際上研究結(jié)果表明，激光光散射粒度儀對(duì)于測(cè)試顆粒粒度測(cè)量的準(zhǔn)確度，是很有幫助的，不僅在折射率上有所提高，而且在測(cè)量時(shí)，也不會(huì)太受顆粒形狀，顆粒表面狀態(tài)，顆粒濃度的限制。雖然后二者影響程度并不小于前者但是，丹東百特儀器有限公司的儀器不僅準(zhǔn)備了16種不同折射率的模型，而且為顆粒粒度的綜合校準(zhǔn)提供了專門的軟件。為了對(duì)用戶負(fù)責(zé)，不至于給用戶造成錯(cuò)覺，丹東百特儀器有限公司在測(cè)試報(bào)告中沒有表明折射率，原因是折射率并不能準(zhǔn)確表示樣品的特性。只不過是計(jì)算中使用的一種模式代號(hào)而已。我們專業(yè)致力于研發(fā)激光光散射粒度儀長(zhǎng)達(dá)數(shù)十年之久，如果您想了解更多關(guān)于激光光散射粒度儀的技術(shù)信息，歡迎您來電與我們一起探討。